測試項(xiàng)目：

Conduction(傳導(dǎo))

Radiation(up to 18GHz)(空間輻射)

Harmonics& Flicker(諧波&閃爍)

Clicker(不連續(xù)干擾)

Surge(雷擊)

C/S(傳導(dǎo)抗干擾)

S1/S2A/S2B/S3/S4/S5/S6(EN55020)

DISTURBANCE POWER(功率輻射)

SPURIOUS EMISSION(雜散)

MAGNETIC DISTURBANCE(X-Y-Z)(磁場騷擾)

ESD(靜電放電)EFT/B(電快速脈沖群

R/S(輻射抗干擾)DIPS(電壓跌落)

IEC/EN 61000-4-2,GB/T17626.2--靜電放電抗擾度試驗(yàn)I

EC/EN 61000-4-3,GB/T17625.3--射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)

IEC/EN 61000-4-4,GB/T17625.4--電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

IEC/EN 61000-4-5,GB/T17625.5--浪涌(沖擊)抗擾度試

IEC/EN 61000-4-6,GB/T17625.6--射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度

IEC/EN 61000-4-8,GB/T17625.8--工頻磁場抗擾度試驗(yàn)

IEC/EN 61000-4-9,GB/T17625.9--脈沖磁場抗擾度試驗(yàn)

IEC/EN 61000-4-11,GB/T17625.11--電壓暫隆、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)

IEC/EN 61000-4-12,GB/T17625.12--振蕩波抗擾度試驗(yàn)

IEC/EN 61000-4-13,GB/T17625.13--諧波、諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn)

測試聯(lián)系人：李小姐